Złożony cykl temperatura/wilgotność z mrozem (Test Z/AD) - przyspieszone badanie komponentów.
Złożona, przyspieszona metoda badania odporności próbek, głównie typu komponentowego, na niszczące działanie wysokiej temperatury z wysoką wilgotnością oraz zimna. Cykl łączy fazy wilgotnego gorąca z podcyklem chłodzenia do temperatury ujemnej, co wywołuje przyspieszone 'oddychanie' obudowy, wnikanie wilgoci i zamarzanie wody uwięzionej w szczelinach i pęknięciach.
Norma nie dotyczy próbek zasilanych przez cały czas badania; zasilanie dopuszcza się w fazach o stałych parametrach.
Test dowodzi, że komponent znosi wielokrotne zmiany temperatury w wilgotnym powietrzu z epizodami mrozu bez utraty szczelności, izolacji i funkcji. Względem Test Db ostrość podnoszą większa liczba zmian temperatury ('pompowanie'), szerszy zakres cykliczny, większa szybkość zmian i wychylenia poniżej zera.
Zapis metody w karcie bez liczby cykli i wyników pomiarów po badaniu potwierdza jedynie zastosowaną procedurę; kryteria akceptacji ustala specyfikacja wyrobu.
Przed badaniem próbkę suszy się wspomagająco przez 24 h w 55 °C ± 2 K przy wilgotności ≤ 20 % RH, a następnie stabilizuje w warunkach standardowych (chłodzenie ≤ 1 K/min); wykonuje się pomiary początkowe. Komora wilgotnościowa realizuje przejścia między 25 °C i 65 °C w czasie od 1,5 h do 2,5 h przy narastaniu i opadaniu, przy wilgotności 93 % ± 3 % RH w fazach stałych i narastania; tolerancja temperatur wynosi ± 2 K.
Komora zimna utrzymuje –10 °C ± 2 K i przechodzi z 25 °C do –10 °C w czasie do 30 min. Cykl trwa 24 h; w dowolnych pięciu z pierwszych dziewięciu cykli, po podcyklu wilgotnościowym, próbkę poddaje się ekspozycji na zimno, a cztery z pierwszych dziewięciu cykli przebiegają bez zimna.
Liczba cykli wynosi 10, jeśli specyfikacja szczegółowa nie stanowi inaczej. Pomiary końcowe wykonuje się w wysokiej wilgotności, bezpośrednio po wyjęciu z komory i po końcowym suszeniu.
W karcie sprawdź liczbę cykli oraz to, czy producent podał wyniki pomiarów po badaniu (rezystancja izolacji, szczelność, funkcja); zapis bez liczby cykli oznacza domyślne 10 cykli tylko wtedy, gdy producent powołał normę bez odstępstw. Metoda odnosi się do komponentów (złączki, przekaźniki, złącza), a dla urządzeń kompletnych karta zwykle powołuje Test Db.
